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双进位保留全加器是一种常用的数字电路，用于将两个二进制数相加。CT54H183/CT74H183型双进位保留全加器是一种高速、低功耗、高可靠性的半导体集成电路，广泛应用于计算机、通信、控制等领域。

该标准规定了CT54H183/CT74H183型双进位保留全加器的技术要求，包括电气特性、静态参数、动态参数、温度特性、电源特性等。其中，电气特性包括输入电压、输出电压、输入电流、输出电流等；静态参数包括逻辑功能、输入电阻、输出电阻等；动态参数包括时序特性、噪声特性等；温度特性包括工作温度范围、温度系数等；电源特性包括电源电压、电源电流等。

此外，该标准还规定了CT54H183/CT74H183型双进位保留全加器的检验方法，包括外观检验、电气性能检验、可靠性检验等。其中，电气性能检验包括静态参数检验、动态参数检验、温度特性检验、电源特性检验等。

标准还规定了CT54H183/CT74H183型双进位保留全加器的标志、包装、运输和贮存等内容。其中，标志包括产品型号、生产厂家、生产日期等；包装包括内包装和外包装；运输包括运输方式、运输条件等；贮存包括贮存条件、贮存期限等。

总之，SJ/T 10086-1991标准为CT54H183/CT74H183型双进位保留全加器的生产、检验、包装、运输和贮存提供了详细的技术要求和规范，有助于保证产品的质量和可靠性，促进了半导体集成电路产业的发展。

相关标准：
GB/T 2977-2008 半导体集成电路封装
GB/T 2978-2008 半导体集成电路标志、包装、运输和贮存
GB/T 2979-2008 半导体集成电路电气参数测量方法
GB/T 2980-2008 半导体集成电路可靠性试验方法
GB/T 2981-2008 半导体集成电路静态参数测量方法