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半导体集成电路是现代电子技术的重要组成部分，广泛应用于计算机、通信、工业控制等领域。其中，S非门是一种常见的逻辑门电路，用于实现逻辑运算。CT54H20/CT74H20型双4输入S非门是一种高速、低功耗、高可靠性的半导体集成电路，具有广泛的应用前景。

该标准规定了CT54H20/CT74H20型双4输入S非门的技术要求，包括电气参数、工作条件、静态和动态特性等。其中，电气参数包括输入电压、输出电压、输入电流、输出电流、功耗等指标，工作条件包括温度、电源电压等要求。静态特性包括输入输出逻辑电平、输入输出电阻等指标，动态特性包括延迟时间、上升时间、下降时间等指标。这些要求都是为了保证产品的性能和可靠性。

此外，该标准还规定了CT54H20/CT74H20型双4输入S非门的检验方法，包括外观检查、电气参数测试、静态和动态特性测试等。检验方法的严格执行可以有效地保证产品的质量和可靠性。

标志、包装、运输和贮存也是该标准规定的内容。标志包括产品型号、生产厂家、生产日期等信息，以便用户正确使用和管理产品。包装要求符合国家相关标准，以保证产品在运输和贮存过程中不受损坏。运输和贮存要求符合产品的特性和环境条件，以保证产品的质量和可靠性。

总之，SJ/T 10084-1991是一份重要的标准，规定了CT54H20/CT74H20型双4输入S非门的技术要求、检验方法、标志、包装、运输和贮存等内容，为产品的生产、使用和管理提供了有力的保障。

相关标准：
1. GB/T 2977-2008 半导体集成电路封装标志
2. GB/T 1019-2008 半导体集成电路包装规范
3. GB/T 2423.1-2008 环境试验 第2部分：试验A：低温试验
4. GB/T 2423.2-2008 环境试验 第2部分：试验B：高温试验
5. GB/T 2423.10-2008 环境试验 第2部分：试验Fh：盐雾试验