钇铁石榴石单晶磁性薄膜是一种重要的磁性材料，广泛应用于磁存储、传感器、微波器件等领域。为了保证钇铁石榴石单晶磁性薄膜的质量，需要对其磁特性进行测量。本标准规定了钇铁石榴石单晶磁性薄膜磁特性的测量方法，包括磁化曲线和磁滞回线的测量方法。

1. 磁化曲线的测量方法
1.1 仪器
磁化曲线的测量需要使用磁化曲线测量仪。磁化曲线测量仪应具有以下性能：
（1）磁场范围：0-2 T；
（2）磁场分辨率：0.01 mT；
（3）磁场稳定性：±0.1%；
（4）磁场方向控制精度：±0.1°；
（5）磁场方向可调范围：0-360°；
（6）样品温度可控范围：室温-300℃。

1.2 样品制备
样品应为钇铁石榴石单晶磁性薄膜，其厚度应在50-500 nm之间。样品应制备成长方向平行于磁场方向的形状，如矩形或圆形。

1.3 测量步骤
（1）将样品固定在磁化曲线测量仪的样品台上；
（2）将磁场方向调整为样品的生长方向，并将磁场从0 T逐渐增加到2 T，记录磁场强度和样品磁化强度的变化；
（3）将磁场方向逆时针旋转90°，重复步骤（2）。

2. 磁滞回线的测量方法
2.1 仪器
磁滞回线的测量需要使用磁滞回线测量仪。磁滞回线测量仪应具有以下性能：
（1）磁场范围：0-2 T；
（2）磁场分辨率：0.01 mT；
（3）磁场稳定性：±0.1%；
（4）磁场方向控制精度：±0.1°；
（5）磁场方向可调范围：0-360°；
（6）样品温度可控范围：室温-300℃。

2.2 样品制备
样品应为钇铁石榴石单晶磁性薄膜，其厚度应在50-500 nm之间。样品应制备成长方向平行于磁场方向的形状，如矩形或圆形。

2.3 测量步骤
（1）将样品固定在磁滞回线测量仪的样品台上；
（2）将磁场方向调整为样品的生长方向，并将磁场从0 T逐渐增加到2 T，再逐渐减小到0 T，记录磁场强度和样品磁化强度的变化；
（3）将磁场方向逆时针旋转90°，重复步骤（2）。

相关标准
GB/T 3656-2008 钇铁石榴石单晶
GB/T 3657-2008 钇铁石榴石单晶磁性薄膜
GB/T 3658-2008 钇铁石榴石单晶磁性粉末
GB/T 3659-2008 钇铁石榴石单晶磁性材料的试验方法
GB/T 3660-2008 钇铁石榴石单晶磁性材料的标志、包装、运输和贮存