锗单晶是一种重要的半导体材料，广泛应用于光电子、太阳能电池、半导体激光器等领域。其中间隙氧含量是影响锗单晶电学性能的重要因素之一。因此，准确测量锗单晶中间隙氧含量对于保证锗单晶的质量和性能具有重要意义。

SJ/T 10625-1995标准规定了锗单晶中间隙氧含量的红外吸收测量方法。该方法基于锗单晶中间隙氧分子的红外吸收特性，通过测量样品在特定波长下的吸收强度来计算中间隙氧含量。

具体测量步骤如下：

1. 准备样品。将锗单晶样品切割成适当大小，并进行表面处理，使其表面光洁度达到要求。

2. 装置测量系统。将样品放置在红外吸收测量系统中，保证样品与光路垂直，并调整系统参数，使其满足测量要求。

3. 测量吸收强度。在特定波长下，测量样品的吸收强度，并记录数据。

4. 计算中间隙氧含量。根据吸收强度数据，使用标准曲线计算样品中间隙氧含量。

本标准的实施可以保证锗单晶中间隙氧含量的准确测量，为锗单晶的生产和应用提供了可靠的技术支持。

相关标准
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