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半导体集成电路CB565型模拟锁相环是一种常用的电路，用于信号的频率合成、时钟同步等应用。为了保证CB565型模拟锁相环的性能和质量，需要制定相应的规范。本标准就是为了规范CB565型模拟锁相环的技术要求、测试方法、质量要求、标志、包装、运输和贮存等内容。

1. 技术要求
本标准规定了CB565型模拟锁相环的电气参数、工作条件、性能指标等技术要求。其中，电气参数包括输入电压、输出电压、工作电流等；工作条件包括工作温度、工作电压等；性能指标包括锁定时间、抖动等。

2. 测试方法
本标准规定了CB565型模拟锁相环的测试方法，包括电气参数测试、工作条件测试、性能指标测试等。其中，电气参数测试包括输入电压测试、输出电压测试、工作电流测试等；工作条件测试包括工作温度测试、工作电压测试等；性能指标测试包括锁定时间测试、抖动测试等。

3. 质量要求
本标准规定了CB565型模拟锁相环的质量要求，包括外观质量、电气性能、可靠性等。其中，外观质量包括焊接质量、封装质量等；电气性能包括输入电压、输出电压、工作电流等；可靠性包括温度循环试验、湿热循环试验等。

4. 标志、包装、运输和贮存
本标准规定了CB565型模拟锁相环的标志、包装、运输和贮存要求。其中，标志包括产品名称、型号、生产厂家等；包装包括内包装、外包装等；运输包括运输方式、运输条件等；贮存包括贮存条件、贮存期限等。

相关标准：
1. GB/T 1236-2019 半导体集成电路封装标志
2. GB/T 2423.1-2008 环境试验 第2部分：试验A：低温试验
3. GB/T 2423.2-2008 环境试验 第2部分：试验B：高温试验
4. GB/T 2423.3-2006 环境试验 第2部分：试验Ca：恒湿热试验
5. GB/T 2423.10-2008 环境试验 第2部分：试验Fh：盐雾试验