：
集成电路卡是一种重要的电子产品，广泛应用于金融、通信、交通等领域。为了保证集成电路卡的质量和可靠性，需要对其进行严格的测试。SJ/T 11222-2000《集成电路卡通用规范 第3部分：测试方法》就是为了规范集成电路卡测试而制定的标准。

该标准主要包括以下内容：

1.测试环境：规定了集成电路卡测试的环境条件，包括温度、湿度、电源电压等参数。测试环境应符合国家相关标准或行业规范。

2.测试设备：规定了集成电路卡测试所需的设备，包括测试仪器、测试工具、测试软件等。测试设备应符合国家相关标准或行业规范。

3.测试程序：规定了集成电路卡测试的程序，包括测试流程、测试方法、测试参数等。测试程序应符合国家相关标准或行业规范。

4.测试数据的处理：规定了集成电路卡测试数据的处理方法，包括数据采集、数据处理、数据分析等。测试数据的处理应符合国家相关标准或行业规范。

5.测试报告的编制：规定了集成电路卡测试报告的编制要求，包括报告格式、报告内容、报告审核等。测试报告的编制应符合国家相关标准或行业规范。

该标准的实施可以有效提高集成电路卡测试的质量和可靠性，保证集成电路卡的性能和安全性，促进集成电路卡产业的健康发展。

相关标准：
GB/T 2423.1-2008 环境试验 第1部分：通用试验方法
GB/T 2423.2-2008 环境试验 第2部分：试验方法的试验A：低温试验
GB/T 2423.3-2006 环境试验 第3部分：试验方法的试验Ca：恒定湿热试验
GB/T 2423.10-2008 环境试验 第10部分：试验方法的试验Fh：盐雾试验
GB/T 2423.17-2008 环境试验 第17部分：试验方法的试验Kb：人工气候老化试验