石英晶体元件是一种常用的电子元器件，广泛应用于电子设备中。在使用石英晶体元件时，需要对其进行各种参数的测量，以保证其正常工作。其中，激励电平相关性（DLD）是石英晶体元件的一个重要参数，它反映了石英晶体元件在不同激励电平下的频率稳定性。为了保证石英晶体元件的性能，需要对其DLD进行测量。

本标准规定了石英晶体元件DLD的测量方法。具体步骤如下：

1. 准备测试设备。测试设备应包括信号源、频率计、功率计、示波器等。

2. 连接测试设备。将信号源、频率计、功率计、示波器等设备按照图示连接。

3. 设置测试条件。设置信号源的输出频率和功率，以及测试时长等参数。

4. 进行测试。在设置好的测试条件下，对石英晶体元件进行DLD测试。

5. 计算结果。根据测试数据，计算出石英晶体元件在不同激励电平下的DLD值。

本标准还规定了测试时需要注意的事项，如测试温度、测试电路等。同时，本标准还对测试结果的判定进行了说明。

通过本标准的测量方法，可以准确地测量石英晶体元件的DLD值，为石英晶体元件的使用提供了可靠的数据支持。

相关标准
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