SJ/T 10458-1993
俄歇电子能谱术语和X射线光电子谱术语的样品处理标准导则
发布时间:1993-12-17 实施时间:1994-06-01


俄歇电子能谱和X射线光电子谱是一种常用的表征材料表面化学成分和电子结构的方法。在进行这两种谱的测试前,样品处理是非常重要的一步。样品处理的好坏直接影响测试结果的准确性和可靠性。因此,为了规范样品处理方法,保证测试结果的准确性和可靠性,SJ/T 10458-1993 俄歇电子能谱术语和X射线光电子谱术语的样品处理标准导则应运而生。

该标准主要包括以下内容:

1. 样品制备

样品制备是样品处理的第一步,也是最基本的一步。样品制备的好坏直接影响测试结果的准确性和可靠性。该标准规定了样品制备的方法和要求,包括样品的选择、切割、打磨、抛光等方面。

2. 样品清洗

样品清洗是样品处理的重要一步。样品表面的杂质和污染物会影响测试结果的准确性和可靠性。该标准规定了样品清洗的方法和要求,包括样品清洗剂的选择、清洗时间、清洗温度等方面。

3. 样品处理

样品处理是样品处理的最后一步,也是非常重要的一步。样品处理的好坏直接影响测试结果的准确性和可靠性。该标准规定了样品处理的方法和要求,包括样品处理剂的选择、处理时间、处理温度等方面。

总之,SJ/T 10458-1993 俄歇电子能谱术语和X射线光电子谱术语的样品处理标准导则是规范俄歇电子能谱和X射线光电子谱的样品处理方法,保证测试结果的准确性和可靠性的重要标准。

相关标准:
GB/T 6682-2008 分析化学实验室水质规范和评价方法
GB/T 8170-2008 数值航空气动试验数据处理规范
GB/T 19633-2005 环境空气质量标准
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GB/T 24001-2016 环境管理体系要求与指南