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寿命试验是电子元器件的重要测试方法之一，通过对元器件在特定条件下的使用寿命进行测试，可以评估其可靠性和稳定性。在寿命试验中，r(1+1/m)数值表是一个重要的参考工具，用于计算元器件的寿命。

r(1+1/m)数值表是一种数学表格，其中r表示元器件的失效率，m表示元器件的寿命指数。在寿命试验中，通过对元器件进行一定时间的测试，可以得到失效率r和寿命指数m的数据。然后，使用r(1+1/m)数值表，可以计算出元器件的寿命。

SJ/T 10345.5-1993《寿命试验用表r(1+1/m)数值表》规定了r(1+1/m)数值表的编制方法和使用要求。该标准要求r(1+1/m)数值表应该按照一定的规律进行编制，以便于使用者能够快速准确地找到所需的数值。同时，该标准还规定了r(1+1/m)数值表的使用方法，包括如何根据元器件的失效率和寿命指数查找对应的寿命值。

除了编制方法和使用要求，SJ/T 10345.5-1993《寿命试验用表r(1+1/m)数值表》还规定了对试验结果的评定方法。在寿命试验中，元器件的失效率和寿命指数可能会受到多种因素的影响，因此需要对试验结果进行评定，以确定元器件的可靠性和稳定性。

总之，SJ/T 10345.5-1993《寿命试验用表r(1+1/m)数值表》是电子元器件寿命试验中的重要参考标准，它规定了r(1+1/m)数值表的编制方法和使用要求，以及对试验结果的评定方法，为电子元器件的可靠性和稳定性评估提供了重要的支持。

相关标准：
GB/T 2423.1-2008 环境试验 第1部分：通用试验方法
GB/T 2423.2-2008 环境试验 第2部分：试验B：高温试验方法
GB/T 2423.3-2006 环境试验 第3部分：试验Ca：恒湿热试验方法
GB/T 2423.4-2008 环境试验 第4部分：试验Db：低温试验方法
GB/T 2423.5-2006 环境试验 第5部分：试验Ea和Eb：温度循环试验方法