晶体管是一种半导体器件，广泛应用于电子设备中。晶体管的热敏参数是指晶体管在不同温度下的电性能，包括饱和漏电流、截止电压等。热敏参数的测试是晶体管生产过程中的重要环节，对于保证晶体管的质量和性能具有重要意义。

本标准适用于晶体管热敏参数的快速筛选试验，旨在提高晶体管生产效率和产品质量。试验方法采用快速筛选的方式，通过对晶体管在不同温度下的电性能进行测试，快速筛选出符合要求的晶体管。

试验设备包括晶体管测试仪、温度控制仪、计算机等。试验方法包括晶体管参数的测量、温度控制、数据采集和处理等步骤。试验结果的处理包括数据分析、统计处理和报告编制等。

本标准要求试验过程中应注意安全、准确、可靠、重复性好等要求，确保试验结果的可靠性和准确性。试验结果应按照标准要求进行处理和报告，以便于产品质量的控制和改进。

相关标准
GB/T 12668.1-2017 晶体管参数的测量 第1部分：通用规定

GB/T 12668.2-2017 晶体管参数的测量 第2部分：饱和漏电流和截止电压的测量

GB/T 12668.3-2017 晶体管参数的测量 第3部分：放大系数的测量

GB/T 12668.4-2017 晶体管参数的测量 第4部分：噪声系数的测量

GB/T 12668.5-2017 晶体管参数的测量 第5部分：输入和输出电容的测量