SJ/T 10092-1991
电子产品用真空电阻炉测试条件
发布时间:1991-04-08 实施时间:1991-07-01


电子产品在生产过程中需要进行各种测试,以确保产品的质量和可靠性。其中,真空电阻炉测试是一种常用的测试方法,可以测试电子产品在高温高真空环境下的性能和可靠性。本标准就是为了规定电子产品用真空电阻炉测试的条件,以保证测试结果的准确性和可比性。

一、测试环境
1. 真空度:真空电阻炉的真空度应符合测试要求,一般要求真空度在10^-5Pa以下。
2. 温度:测试温度应符合测试要求,一般要求测试温度在200℃以上。
3. 气氛:测试气氛应符合测试要求,一般要求测试气氛为高真空或惰性气体气氛。

二、测试方法
1. 测试程序:测试程序应符合测试要求,一般要求测试程序为升温、恒温、降温三个阶段。
2. 测试时间:测试时间应符合测试要求,一般要求测试时间为2小时以上。
3. 测试样品:测试样品应符合测试要求,一般要求测试样品为电子产品或电子产品的组件。

三、测试设备
1. 真空电阻炉:真空电阻炉应符合测试要求,一般要求真空电阻炉具有高真空度、高温度和稳定性等特点。
2. 测温仪:测温仪应符合测试要求,一般要求测温仪具有高精度、高稳定性和高灵敏度等特点。
3. 真空泵:真空泵应符合测试要求,一般要求真空泵具有高真空度、高抽速和低噪声等特点。

四、测试结果的处理
1. 测试数据:测试数据应符合测试要求,一般要求测试数据具有可靠性、准确性和可比性等特点。
2. 测试报告:测试报告应符合测试要求,一般要求测试报告包括测试数据、测试结果和测试结论等内容。

相关标准:
GB/T 2423.1-2008 环境试验 第1部分:通用试验方法
GB/T 2423.2-2008 环境试验 第2部分:试验B:高温试验方法
GB/T 2423.10-2008 环境试验 第10部分:试验Fh:高温高湿试验方法
GB/T 2423.22-2008 环境试验 第22部分:试验N:恒湿试验方法
GB/T 2423.34-2008 环境试验 第34部分:试验Z/AD:盐雾试验方法