半导体电阻应变计是一种用于测量材料应变的传感器，其灵敏度高、响应速度快、精度高等特点使其在工业、军事、医疗等领域得到广泛应用。而半导体电阻应变计空白则是指未经过校准和调试的电阻应变计，其质量直接影响到最终产品的精度和可靠性。因此，为了保证半导体电阻应变计的质量，本标准对其空白进行了详细规范。

1 技术要求
1.1 外观质量
半导体电阻应变计空白应无明显的机械损伤、氧化、腐蚀等缺陷，表面应平整、光滑、无毛刺、无裂纹、无气泡、无污染等。

1.2 电学性能
半导体电阻应变计空白的电阻值应符合设计要求，其温度系数应在规定范围内，且应具有良好的线性特性和稳定性。

1.3 尺寸精度
半导体电阻应变计空白的尺寸应符合设计要求，其公差应在规定范围内。

2 试验方法
2.1 外观检验
对半导体电阻应变计空白进行外观检验时，应使用肉眼或显微镜进行观察，检查其表面是否平整、光滑、无毛刺、无裂纹、无气泡、无污染等。

2.2 电学性能检验
对半导体电阻应变计空白进行电学性能检验时，应使用专用的测试仪器进行测量，检查其电阻值、温度系数、线性特性和稳定性是否符合设计要求。

2.3 尺寸精度检验
对半导体电阻应变计空白进行尺寸精度检验时，应使用专用的测量工具进行测量，检查其尺寸是否符合设计要求，公差是否在规定范围内。

3 检验规则和标志
3.1 检验规则
半导体电阻应变计空白应按照本标准的技术要求进行检验，合格后方可出厂。

3.2 标志
半导体电阻应变计空白应在其表面或包装上标注产品名称、型号、规格、生产厂家、生产日期等信息。

4 包装、运输、贮存
4.1 包装
半导体电阻应变计空白应采用防静电包装材料进行包装，包装材料应符合国家相关标准。

4.2 运输
半导体电阻应变计空白在运输过程中应避免受到机械振动、碰撞、湿度等影响，以免影响其质量。

4.3 贮存
半导体电阻应变计空白在贮存过程中应避免受到机械振动、碰撞、湿度等影响，同时应避免阳光直射和高温环境，以免影响其质量。

相关标准
GB/T 2423.1-2008 环境试验 第1部分：通用试验方法
GB/T 2423.2-2008 环境试验 第2部分：试验B：高温试验方法
GB/T 2423.3-2006 环境试验 第3部分：试验Ca：恒湿热试验方法
GB/T 2423.4-2008 环境试验 第4部分：试验Db：盐雾试验方法
GB/T 2423.5-2006 环境试验 第5部分：试验Ea和Eb：跌落试验方法