SJ/T 11211-1999
石英晶体元件参数的测量 第5部分:采用自动网络分析技术和误差校正确定等效电参数的方法
发布时间:1999-08-26 实施时间:1999-12-01


石英晶体元件是一种重要的电子元器件,广泛应用于通信、计算机、电子测量等领域。为了保证石英晶体元件的性能和质量,需要对其参数进行精确测量。本标准就是为了规定石英晶体元件参数的测量方法,特别是采用自动网络分析技术和误差校正确定等效电参数的方法。

本标准主要包括以下内容:

1.范围
本标准适用于石英晶体元件等效电参数的测量。

2.引用标准
本标准引用了以下标准:
GB/T 191-2008 计量单位制
GB/T 8170-2008 数字字符集编码字符集
GB/T 1236-2000 石英晶体元件
GB/T 15210-1994 石英晶体元件参数的测量 第1部分:一般规定
GB/T 15211-1994 石英晶体元件参数的测量 第2部分:频率-温度特性的测量
GB/T 15212-1994 石英晶体元件参数的测量 第3部分:频率-载荷特性的测量
GB/T 15213-1994 石英晶体元件参数的测量 第4部分:频率-震动特性的测量

3.术语和定义
本标准中使用的术语和定义与GB/T 15210-1994相同。

4.测量原理
本标准采用自动网络分析技术和误差校正确定石英晶体元件等效电参数。

5.测量方法
本标准详细介绍了石英晶体元件等效电参数的测量方法,包括测量前的准备工作、测量系统的校准、测量过程中的注意事项等。

6.数据处理
本标准对测量得到的数据进行了详细的处理,包括误差校正、数据分析等。

7.报告
本标准规定了测量报告的内容和格式。

相关标准:
GB/T 1236-2000 石英晶体元件
GB/T 15210-1994 石英晶体元件参数的测量 第1部分:一般规定
GB/T 15211-1994 石英晶体元件参数的测量 第2部分:频率-温度特性的测量
GB/T 15212-1994 石英晶体元件参数的测量 第3部分:频率-载荷特性的测量
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