SJ/T 11399-2009
半导体发光二极管芯片测试方法
发布时间:2009-11-17 实施时间:2010-01-01


半导体发光二极管(LED)是一种半导体器件,具有发光功能。LED芯片是LED的核心部件,其性能直接影响LED的发光效果和使用寿命。为了保证LED产品的质量,需要对LED芯片进行严格的测试。SJ/T 11399-2009《半导体发光二极管芯片测试方法》就是为了规范LED芯片测试而制定的标准。

本标准主要包括以下内容:

1.光电特性测试:包括光通量、光强度、色坐标、色温度等指标的测试方法。

2.电学特性测试:包括正向电流、反向电流、正向电压、反向电压等指标的测试方法。

3.可靠性测试:包括热应力测试、湿热应力测试、温度循环测试、ESD测试等指标的测试方法。

4.测试设备和仪器:包括光谱辐射计、光度计、电流源、电压源、温度循环箱等测试设备和仪器的要求。

5.测试结果的判定:根据测试结果,对LED芯片的质量进行判定。

本标准适用于LED芯片的测试,但不适用于LED灯具和LED显示屏等LED产品的测试。

相关标准:
GB/T 24825-2018 LED灯具通用技术条件
GB/T 20145-2006 LED显示屏通用技术条件
GB/T 28289-2012 LED照明产品能效限定值及能效等级
GB/T 20144-2006 LED显示屏亮度一致性要求
GB/T 20146-2006 LED显示屏色彩一致性要求