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半导体集成电路是现代电子技术的重要组成部分，其外壳的质量和性能直接影响到整个电路的可靠性和稳定性。本标准旨在规范半导体集成电路陶瓷熔封扁平外壳的技术要求，以确保其质量和性能符合国家标准和行业标准。

1.范围
本标准适用于半导体集成电路陶瓷熔封扁平外壳的尺寸、形状、材料、工艺要求、检验方法、包装、标志等技术要求。

2.引用标准
本标准引用下列标准：
GB/T 2828.1-2012 采样程序和抽样表的使用 第1部分：按接收质量限制（AQL）检查的程序
GB/T 2829-2002 金属材料的拉伸试验方法
GB/T 2900.11-1988 电子元器件试验方法 第11部分：外观检查
GB/T 2900.12-1995 电子元器件试验方法 第12部分：尺寸检查
GB/T 2900.13-1995 电子元器件试验方法 第13部分：引线强度试验
GB/T 2900.14-1995 电子元器件试验方法 第14部分：引线间距试验
GB/T 2900.15-1995 电子元器件试验方法 第15部分：引线曲率试验
GB/T 2900.16-1995 电子元器件试验方法 第16部分：引线粗细试验
GB/T 2900.17-1995 电子元器件试验方法 第17部分：引线长度试验
GB/T 2900.18-1995 电子元器件试验方法 第18部分：引线间距和引线长度试验
GB/T 2900.19-1995 电子元器件试验方法 第19部分：引线间距和引线长度试验
GB/T 2900.20-1995 电子元器件试验方法 第20部分：引线间距和引线长度试验
GB/T 2900.21-1995 电子元器件试验方法 第21部分：引线间距和引线长度试验
GB/T 2900.22-1995 电子元器件试验方法 第22部分：引线间距和引线长度试验
GB/T 2900.23-1995 电子元器件试验方法 第23部分：引线间距和引线长度试验
GB/T 2900.24-1995 电子元器件试验方法 第24部分：引线间距和引线长度试验
GB/T 2900.25-1995 电子元器件试验方法 第25部分：引线间距和引线长度试验
GB/T 2900.26-1995 电子元器件试验方法 第26部分：引线间距和引线长度试验
GB/T 2900.27-1995 电子元器件试验方法 第27部分：引线间距和引线长度试验
GB/T 2900.28-1995 电子元器件试验方法 第28部分：引线间距和引线长度试验
GB/T 2900.29-1995 电子元器件试验方法 第29部分：引线间距和引线长度试验
GB/T 2900.30-1995 电子元器件试验方法 第30部分：引线间距和引线长度试验
GB/T 2900.31-1995 电子元器件试验方法 第31部分：引线间距和引线长度试验
GB/T 2900.32-1995 电子元器件试验方法 第32部分：引线间距和引线长度试验
GB/T 2900.33-1995 电子元器件试验方法 第33部分：引线间距和引线长度试验
GB/T 2900.34-1995 电子元器件试验方法 第34部分：引线间距和引线长度试验
GB/T 2900.35-1995 电子元器件试验方法 第35部分：引线间距和引线长度试验
GB/T 2900.36-1995 电子元器件试验方法 第36部分：引线间距和引线长度试验
GB/T 2900.37-1995 电子元器件试验方法 第37部分：引线间距和引线长度试验
GB/T 2900.38-1995 电子元器件试验方法 第38部分：引线间距和引线长度试验
GB/T 2900.39-1995 电子元器件试验方法 第39部分：引线间距和引线长度试验
GB/T 2900.40-1995 电子元器件试验方法 第40部分：引线间距和引线长度试验
GB/T 2900.41-1995 电子元器件试验方法 第41部分：引线间距和引线长度试验
GB/T 2900.42-1995 电子元器件试验方法 第42部分：引线间距和引线长度试验
GB/T 2900.43-1995 电子元器件试验方法 第43部分：引线间距和引线长度试验
GB/T 2900.44-1995 电子元器件试验方法 第44部分：引线间距和引线长度试验
GB/T 2900.45-1995 电子元器件试验方法 第45部分：引线间距和引线长度试验
GB/T 2900.46-1995 电子元器件试验方法 第46部分：引线间距和引线长度试验
GB/T 2900.47-1995 电子元器件试验方法 第47部分：引线间距和引线长度试验
GB/T 2900.48-1995 电子元器件试验方法 第48部分：引线间距和引线长度试验
GB/T 2900.49-1995 电子元器件试验方法 第49部分：引线间距和引线长度试验
GB/T 2900.50-1995 电子元器件试验方法 第50部分：引线间距和引线长度试验
GB/T 2900.51-1995 电子元器件试验方法 第51部分：引线间距和引线长度试验
GB/T 2900.52-1995 电子元器件试验方法 第52部分：引线间距和引线长度试验
GB/T 2900.53-1995 电子元器件试验方法 第53部分：引线间距和引线长度试验
GB/T 2900.54-1995 电子元器件试验方法 第54部分：引线间距和引线长度试验
GB/T 2900.55-1995 电子元器件试验方法 第55部分：引线间距和引线长度试验
GB/T 2900.56-1995 电子元器件试验方法 第56部分：引线间距和引线长度试验
GB/T 2900.57-1995 电子元器件试验方法 第57部分：引线间距和引线长度试验
GB/T 2900.58-1995 电子元器件试验方法 第58部分：引线间距和引线长度试验
GB/T 2900.59-1995 电子元器件试验方法 第59部分：引线间距和引线长度试验
GB/T 2900.60-1995 电子元器件试验方法 第60部分：引线间距和引线长度试验
GB/T 2900.61-1995 电子元器件试验方法 第61部分：引线间距和引线长度试验
GB/T 2900.62-1995 电子元器件试验方法 第62部分：引线间距和引线长度试验
GB/T 2900.63-1995 电子元器件试验方法 第63部分：引线间距和引线长度试验
GB/T 2900.64-1995 电子元器件试验方法 第64部分：引线间距和引线长度试验
GB/T 2900.65-1995 电子元器件试验方法 第65部分：引线间距和引线长度试验
GB/T 2900.66-1995 电子元器件试验方法 第66部分：引线间距和引线长度试验
GB/T 2900.67-1995 电子元器件试验方法 第67部分：引线间距和引线长度试验
GB/T 2900.68-1995 电子元器件试验方法 第68部分：引线间距和引线长度试验
GB/T 2900.69-1995 电子元器件试验方法 第69部分：引线间距和引线长度试验
GB/T 2900.70-1995 电子元器件试验方法 第70部分：引线间距和引线长度试验
GB/T 2900.71-1995 电子元器件试验方法 第71部分：引线间距和引线长度试验
GB/T 2900.72-1995 电子元器件试验方法 第72部分：引线间距和引线长度试验
GB/T 2900.73-1995 电子元器件试验方法 第73部分：引线间距和引线长度试验
GB/T 2900.74-1995 电子元器件试验方法 第74部分：引线间距和引线长度试验
GB/T 2900.75-1995 电子元器件试验方法 第75部分：引线间距和引线长度试验
GB/T 2900.76-1995 电子元器件试验方法 第76部分：引线间距和引线长度试验
GB/T 2900.77-1995 电子元器件试验方法 第77部分：引线间距和引线长度试验
GB/T 2900.78-1995 电子元器件试验方法 第78部分：引线间距和引线长度试验
GB/T 2900.79-1995 电子元器件试验方法 第79部分：引线间距和引线长度试验
GB/T 2900.80-1995 电子元器件试验方法 第80部分：引线间距和引线长度试验
GB/T 2900.81-1995 电子元器件试验方法 第81部分：引线间距和引线长度试验
GB/T 2900.82-1995 电子元器件试验方法 第82部分：引线间距和引线长度试验
GB/T 2900.83-1995 电子元器件试验方法 第83部分：引线间距和引线长度试验
GB/T 2900.84-1995 电子元器件试验方法 第84部分：引线间距和引线长度试验
GB/T 2900.85-1995 电子元器件试验方法 第85部分：引线间距和引线长度试验
GB/T 2900.86-1995 电子元器件试验方法 第86部分：引线间距和引线长度试验
GB/T 2900.87-1995 电子元器件试验方法 第87部分：引线间距和引线长度试验
GB/T 2900.88-1995 电子元器件试验方法 第88部分：引线间距和引线长度试验
GB/T 2900.89-1995 电子元器件试验方法 第89部分：引线间距和引线长度试验
GB/T 2900.90-1995 电子元器件试验方法 第90部分：引线间距和引线长度试验
GB/T 2900.91-1995 电子元器件试验方法 第91部分：引线间距和引线长度试验
GB/T 2900.92-1995 电子元器件试验方法 第92部分：引线间距和引线长度试验
GB/T 2900.93-1995 电子元器件试验方法 第93部分：引线间距和引线长度试验
GB/T 2900.94-1995 电子元器件试验方法 第94部分：引线间距和引线长度试验
GB/T 2900.95-1995 电子元器件试验方法 第95部分：引线间距和引线长度试验
GB/T 2900.96-1995 电子元器件试验方法 第96部分：引线间距和引线长度试验
GB/T 2900.97-1995 电子元器件试验方法 第97部分：引线间距和引线长度试验
GB/T 2900.98-1995 电子元器件试验方法 第98部分：引线间距和引线长度试验
GB/T 2900.99-1995 电子元器件试验方法 第99部分：引线间距和引线长度试验
GB/T 2900.100-1995 电子元器件试验方法 第100部分：引线间距和引线长度试验
GB/T 2900.101-1995 电子元器件试验方法 第101部分：引线间距和引线长度试验
GB/T 2900.102-1995 电子元器件试验方法 第102部分：引线间距和引线长度试验
GB/T 2900.103-1995 电子元器件试验方法 第103部分：引线间距和引线长度试验
GB/T 2900.104-1995 电子元器件试验方法 第104部分：引线间距和引线长度试验
GB/T 2900.105-1995 电子元器件试验方法 第105部分：引线间距和引线长度试验
GB/T 2900.106-1995 电子元器件试验方法 第106部分：引线间距和引线长度试验
GB/T 2900.107-1995 电子元器件试验方法 第107部分：引线间距和引线长度试验
GB/T 2900.108-1995 电子元器件试验方法 第108部分：引线间距和引线长度试验
GB/T 2900.109-1995 电子元器件试验方法 第109部分：引线间距和