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发光二极管外延片是发光二极管的重要组成部分，其质量直接影响到发光二极管的性能和寿命。为了保证发光二极管的质量和稳定性，制定了SJ/T 11470-2014《发光二极管外延片》标准。

该标准首先对发光二极管外延片的术语和定义进行了说明，包括外延片、衬底、外延层、p型层、n型层等。然后对外延片进行了分类，分为p型外延片和n型外延片两种。

在要求方面，该标准规定了外延片的尺寸、形状、表面质量、晶体质量、掺杂浓度、电性能等方面的要求。其中，晶体质量是外延片的重要指标之一，包括晶格缺陷密度、位错密度、晶面平整度等。

在试验方法方面，该标准规定了外延片的检验方法，包括外观检查、尺寸测量、晶体质量检验、电性能检验等。其中，晶体质量检验包括X射线衍射、拉曼光谱、PL光谱等方法。

在检验规则方面，该标准规定了外延片的检验规则，包括抽样方法、检验项目、判定标准等。其中，判定标准是根据外延片的用途和性能要求来制定的。

在标志、包装、运输和贮存方面，该标准规定了外延片的标志、包装、运输和贮存要求，以保证外延片的质量和稳定性。

相关标准：
GB/T 19001-2016 质量管理体系要求
GB/T 2828.1-2012 采样检验程序第1部分：按比例抽样检验程序
GB/T 2829-2002 采样检验程序第2部分：计数抽样检验程序
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