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砷化镓是一种重要的半导体材料，广泛应用于光电子、微电子、光通信等领域。其中，硼是砷化镓中常见的杂质元素之一，其含量对砷化镓的性能有着重要的影响。因此，准确测量砷化镓中硼的含量是非常必要的。

本标准采用红外吸收法测量砷化镓中硼的含量。该方法基于硼在红外波段的吸收特性，通过测量样品在红外波段的吸收光谱，计算出样品中硼的含量。

具体操作步骤如下：

1. 样品制备：将待测样品研磨成粉末，并加入适量的碳粉混合均匀。

2. 样品烧蚀：将样品放入烧蚀炉中，在氧化性气氛下加热至高温，使样品中的硼氧化成三氧化硼。

3. 硼含量测量：将烧蚀后的样品放入红外吸收光谱仪中，测量样品在红外波段的吸收光谱，并根据吸收峰的强度计算出样品中硼的含量。

本标准适用于砷化镓中硼含量的测量，适用于砷化镓单晶、多晶、薄膜等不同形态的样品。

相关标准：
- GB/T 6908-2017 半导体材料中杂质元素的测量方法 等离子体质谱法
- GB/T 6909-2017 半导体材料中杂质元素的测量方法 电感耦合等离子体原子发射光谱法
- GB/T 6910-2017 半导体材料中杂质元素的测量方法 电感耦合等离子体质谱法
- GB/T 6911-2017 半导体材料中杂质元素的测量方法 电感耦合等离子体质谱法
- GB/T 6912-2017 半导体材料中杂质元素的测量方法 电感耦合等离子体质谱法