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半导体光电耦合器是一种将光信号转换为电信号或将电信号转换为光信号的器件，广泛应用于通信、计算机、工业自动化等领域。为了保证半导体光电耦合器的性能和质量，需要对其进行测试和评价。SJ/T 2215-2015半导体光电耦合器测试方法规定了半导体光电耦合器的测试方法，包括以下方面：

1.光电转换特性测试方法
光电转换特性是指光信号转换为电信号的特性，包括灵敏度、响应时间、线性度等。该标准规定了光电转换特性测试的方法和要求，包括光源的选择、光电转换特性测试电路的设计和搭建、测试条件的确定等。

2.光电耦合特性测试方法
光电耦合特性是指光信号和电信号之间的转换特性，包括光电转换系数、光电耦合带宽等。该标准规定了光电耦合特性测试的方法和要求，包括测试电路的设计和搭建、测试条件的确定等。

3.光电隔离特性测试方法
光电隔离特性是指光电耦合器在光电隔离状态下的特性，包括隔离电压、隔离电阻等。该标准规定了光电隔离特性测试的方法和要求，包括测试电路的设计和搭建、测试条件的确定等。

4.光电耦合器的温度特性测试方法
光电耦合器的温度特性是指光电耦合器在不同温度下的性能变化情况，包括灵敏度、响应时间、光电转换系数等。该标准规定了光电耦合器的温度特性测试方法和要求，包括测试电路的设计和搭建、测试条件的确定等。

5.其他测试方法
该标准还规定了其他测试方法，包括光电耦合器的耐电压测试、耐温度测试等。

相关标准：
GB/T 19532-2004 半导体光电耦合器
GB/T 19533-2004 半导体光电耦合器的试验方法
GB/T 19534-2004 半导体光电耦合器的可靠性试验方法
GB/T 19535-2004 半导体光电耦合器的封装和标记
GB/T 19536-2004 半导体光电耦合器的质量评定方法