半导体红外发射二极管是一种用于红外线通信和遥控器等领域的重要器件。为了保证其性能和质量，需要对其进行严格的测量和测试。本标准旨在规定半导体红外发射二极管的测量方法，以确保其性能和质量符合要求。

1.1 适用范围
本标准适用于半导体红外发射二极管的测量方法，包括测试设备、测试环境、测试程序和测试结果的处理等方面的要求。

1.2 规范性引用文件
本标准中涉及的以下文件，对于本标准的应用是必不可少的。当使用本标准时，应按照引用文件的最新版本使用。被引用文件的修改单不适用于本标准，除非本标准中另有规定。

GB/T 8170-2008 数值圆整规则及通用规定
GB/T 2423.1-2008 环境试验 第1部分：通用试验方法
GB/T 2423.2-2008 环境试验 第2部分：试验B：高温试验方法
GB/T 2423.3-2006 环境试验 第3部分：试验Ca：恒湿热试验方法
GB/T 2423.4-2008 环境试验 第4部分：试验Db：低温试验方法

1.3 术语和定义
本标准中使用的术语和定义与GB/T 8170-2008中的术语和定义相同。

2. 测量方法
2.1 测试设备
2.1.1 红外发射二极管测试仪
红外发射二极管测试仪应具有以下功能：
（1）测试波长范围：850nm~950nm；
（2）测试电流范围：0mA~100mA；
（3）测试电压范围：0V~5V；
（4）测试时间范围：0s~10s。

2.1.2 光谱辐射计
光谱辐射计应具有以下功能：
（1）测试波长范围：850nm~950nm；
（2）测试光功率范围：0mW~100mW。

2.2 测试环境
测试环境应符合GB/T 2423.1-2008、GB/T 2423.2-2008、GB/T 2423.3-2006和GB/T 2423.4-2008中的要求。

2.3 测试程序
2.3.1 测试前准备
（1）检查测试设备是否正常；
（2）将红外发射二极管安装在测试夹具上；
（3）将测试夹具放置在测试环境中。

2.3.2 测试过程
（1）设置测试电流和测试时间；
（2）启动测试仪器，开始测试；
（3）记录测试结果。

2.3.3 测试后处理
（1）计算测试结果；
（2）判断测试结果是否符合要求。

3. 测试结果的处理
3.1 测试结果应包括以下内容：
（1）测试电流；
（2）测试电压；
（3）测试时间；
（4）测试光功率。

3.2 测试结果应按照以下要求处理：
（1）测试结果应进行圆整处理，保留3位有效数字；
（2）测试结果应与规定值进行比较，判断是否符合要求。

相关标准
GB/T 8170-2008 数值圆整规则及通用规定
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GB/T 2423.3-2006 环境试验 第3部分：试验Ca：恒湿热试验方法
GB/T 2423.4-2008 环境试验 第4部分：试验Db：低温试验方法