SJ/T 2658.7-2015
半导体红外发射二极管测量方法 第7部分:辐射通量
发布时间:2015-10-10 实施时间:2016-04-01


半导体红外发射二极管是一种能够将电能转化为红外辐射能的器件,广泛应用于红外测温、红外遥控、红外通信等领域。在实际应用中,需要对半导体红外发射二极管的辐射通量进行测量,以保证其性能和质量。

本标准规定了半导体红外发射二极管辐射通量的测量方法。具体步骤如下:

1. 测量仪器的准备

使用具有辐射通量测量功能的光度计,并根据其说明书进行正确的操作和校准。

2. 测量样品的准备

将待测半导体红外发射二极管放置在光度计的测量位置上,并确保其与光度计的接触良好。

3. 测量过程

打开光度计的测量功能,并记录测量结果。重复多次测量,取平均值作为最终的测量结果。

4. 结果处理

根据测量结果计算出半导体红外发射二极管的辐射通量,并进行记录和报告。

本标准的实施可以有效保证半导体红外发射二极管的辐射通量测量的准确性和可靠性,为相关领域的应用提供了重要的技术支持。

相关标准:
GB/T 231.1-2009 电学基本量的测量 第1部分:通用规定
GB/T 231.2-2009 电学基本量的测量 第2部分:电压的测量
GB/T 231.3-2009 电学基本量的测量 第3部分:电流的测量
GB/T 231.4-2009 电学基本量的测量 第4部分:电阻的测量
GB/T 231.5-2009 电学基本量的测量 第5部分:电容的测量