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半导体红外发射二极管是一种常用的红外光源，其辐射强度空间分布和半强度角的测量对于红外光源的应用具有重要意义。本标准旨在规定半导体红外发射二极管辐射强度空间分布和半强度角的测量方法，以保证其测量结果的准确性和可靠性。

本标准适用于半导体红外发射二极管辐射强度空间分布和半强度角的测量。测量方法包括：辐射强度空间分布测量和半强度角测量。

辐射强度空间分布测量方法包括：测量系统的组成、测量系统的校准、测量系统的调试、测量系统的测量、数据处理和结果分析等步骤。其中，测量系统的组成包括：光学系统、机械系统、电子系统和计算机系统等。测量系统的校准包括：光学系统的校准、机械系统的校准、电子系统的校准和计算机系统的校准等。测量系统的调试包括：光学系统的调试、机械系统的调试、电子系统的调试和计算机系统的调试等。测量系统的测量包括：测量系统的准备、测量系统的测量和测量数据的记录等。数据处理包括：数据的处理和数据的分析等。结果分析包括：结果的分析和结果的判定等。

半强度角测量方法包括：测量系统的组成、测量系统的校准、测量系统的调试、测量系统的测量、数据处理和结果分析等步骤。其中，测量系统的组成、测量系统的校准、测量系统的调试和测量系统的测量等步骤与辐射强度空间分布测量方法相同。数据处理包括：数据的处理和数据的分析等。结果分析包括：结果的分析和结果的判定等。

本标准的实施可以保证半导体红外发射二极管辐射强度空间分布和半强度角的测量结果的准确性和可靠性，为红外光源的应用提供了重要的技术支持。

相关标准：
GB/T 231.1-2009 光学和光学仪器 透镜 第1部分：一般规定
GB/T 231.2-2009 光学和光学仪器 透镜 第2部分：光学玻璃
GB/T 231.3-2009 光学和光学仪器 透镜 第3部分：光学塑料
GB/T 231.4-2009 光学和光学仪器 透镜 第4部分：透镜的制造和检验
GB/T 231.5-2009 光学和光学仪器 透镜 第5部分：透镜的表面质量