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有机发光二极管（OLED）显示器件是一种新型的显示器件，具有高对比度、高亮度、广视角、薄、轻、柔性等优点，被广泛应用于手机、电视、电子书、车载显示器等领域。为了保证OLED显示器件的质量和可靠性，需要对其进行残像和寿命测试。

残像是指显示器件在显示一幅图像后，图像消失后留下的残留图像。残像会影响显示器件的显示效果和可靠性。寿命是指显示器件在使用一定时间后，亮度降低到一定程度或出现其他故障的时间。寿命是显示器件的重要指标之一。

本标准规定了OLED显示器件残像和寿命的测试方法。其中，残像测试包括静态残像测试和动态残像测试。静态残像测试是指在显示一幅图像后，关闭显示器件，观察残留图像的时间。动态残像测试是指在显示一幅图像后，显示一幅白色图像，观察残留图像的时间。寿命测试包括亮度寿命测试和时间寿命测试。亮度寿命测试是指在一定亮度下，观察显示器件亮度降低到一定程度的时间。时间寿命测试是指在一定时间内，观察显示器件亮度降低到一定程度或出现其他故障的时间。

本标准的实施可以保证OLED显示器件的质量和可靠性，提高OLED显示器件的市场竞争力。

相关标准：
GB/T 26757-2011 有机发光二极管显示器件
GB/T 26758-2011 有机发光二极管显示器件的可靠性试验方法
GB/T 26759-2011 有机发光二极管显示器件的环境试验方法
GB/T 26760-2011 有机发光二极管显示器件的光学性能试验方法
GB/T 26761-2011 有机发光二极管显示器件的电学性能试验方法