SJ/T 2749-2016
半导体激光二极管测试方法
发布时间:2016-01-15 实施时间:2016-06-01
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半导体激光二极管是一种重要的光电器件,广泛应用于通信、医疗、工业等领域。为了保证半导体激光二极管的质量和性能,需要对其进行测试和评价。SJ/T 2749-2016《半导体激光二极管测试方法》就是为了规范半导体激光二极管的测试方法而制定的。
该标准主要包括以下内容:
1. 光电特性测试:包括光输出功率、光谱特性、光束质量、光电转换效率等方面的测试。其中,光输出功率是半导体激光二极管的重要参数之一,需要进行精确的测试。
2. 电学特性测试:包括正向电流-正向电压特性、反向电流-反向电压特性、阈值电流等方面的测试。这些参数对于半导体激光二极管的工作状态和性能有着重要的影响。
3. 可靠性测试:包括温度循环测试、湿热循环测试、静电放电测试等方面的测试。这些测试可以评估半导体激光二极管的可靠性和稳定性,为其应用提供保障。
除了上述内容,该标准还规定了测试方法的具体步骤和要求,以及测试设备和仪器的选择和使用。同时,还对测试结果的处理和分析进行了详细的说明。
该标准的实施可以提高半导体激光二极管的测试精度和可靠性,为其应用提供更好的保障。同时,也可以促进半导体激光二极管产业的发展和标准化。
相关标准:
GB/T 19582-2004 半导体激光器术语和定义
GB/T 19583-2004 半导体激光器分类和标记
GB/T 19584-2004 半导体激光器性能测试方法
GB/T 19585-2004 半导体激光器可靠性试验方法
GB/T 19586-2004 半导体激光器包装、运输、贮存和使用规范