SJ/T 1831-2016
半导体分立器件 3DK28型NPN硅小功率开关晶体管详细规范
发布时间:2016-04-05 实施时间:2016-09-01


半导体分立器件是电子工业中的重要组成部分,其中开关晶体管是一种常见的器件。3DK28型NPN硅小功率开关晶体管是一种常用的开关元件,广泛应用于各种电子设备中。为了保证3DK28型NPN硅小功率开关晶体管的质量和性能,需要对其进行规范化管理和检验。SJ/T 1831-2016半导体分立器件 3DK28型NPN硅小功率开关晶体管详细规范就是为了满足这一需求而制定的。

该标准主要包括以下内容:

1.产品分类和型号命名:对3DK28型NPN硅小功率开关晶体管的分类和型号命名进行了规定,以便于生产和检验。

2.技术要求:对3DK28型NPN硅小功率开关晶体管的外观、尺寸、电气性能、可靠性等方面的技术要求进行了详细规定。

3.试验方法:对3DK28型NPN硅小功率开关晶体管的各项性能进行了试验方法的规定,包括外观检查、尺寸测量、电气性能测试、可靠性试验等。

4.检验规则:对3DK28型NPN硅小功率开关晶体管的检验规则进行了规定,包括检验方法、检验标准、检验程序等。

5.标志、包装、运输和贮存:对3DK28型NPN硅小功率开关晶体管的标志、包装、运输和贮存进行了规定,以确保产品在生产、运输和使用过程中的质量和性能不受影响。

通过SJ/T 1831-2016半导体分立器件 3DK28型NPN硅小功率开关晶体管详细规范的制定和实施,可以有效提高3DK28型NPN硅小功率开关晶体管的质量和性能,保证其在各种电子设备中的可靠性和稳定性。

相关标准:
GB/T 1482-2010 半导体器件试验方法通则
GB/T 1483-2010 半导体器件可靠性试验方法
GB/T 1484-2010 半导体器件封装试验方法
GB/T 1485-2010 半导体器件外观检查方法
GB/T 1486-2010 半导体器件尺寸测量方法