SJ/T 10805-2018
半导体集成电路 电压比较器测试方法
发布时间:2018-02-09 实施时间:2018-04-01


电压比较器是半导体集成电路中常用的一种功能模块,其主要作用是将两个电压进行比较,并输出比较结果。在半导体集成电路的设计和制造过程中,电压比较器的测试是非常重要的一步,可以保证电路的正常工作和性能的稳定性。本标准旨在规定半导体集成电路电压比较器的测试方法,以确保测试结果的准确性和可靠性。

1.测试设备
电压比较器的测试需要使用特定的测试设备,包括测试仪器、测试夹具、测试电源等。其中,测试仪器主要包括示波器、信号发生器、数字万用表等,用于测量电路的输入输出信号和电压值。测试夹具用于固定电路芯片和测试仪器之间的连接,保证测试信号的传输和接收。测试电源用于为电路提供稳定的电源电压和电流,以确保测试结果的准确性和可靠性。

2.测试环境
电压比较器的测试需要在特定的测试环境下进行,包括温度、湿度、电磁干扰等因素的控制。其中,温度和湿度的控制可以通过恒温恒湿箱等设备实现,以确保测试环境的稳定性和一致性。电磁干扰的控制可以通过屏蔽箱等设备实现,以避免外部干扰对测试结果的影响。

3.测试方法
电压比较器的测试方法主要包括输入输出特性测试、功耗测试、温度特性测试等。其中,输入输出特性测试是电压比较器测试的核心内容,主要包括输入电压范围、输出电压范围、响应时间、输出电平等参数的测试。功耗测试主要用于评估电路的功耗性能,包括静态功耗和动态功耗两个方面。温度特性测试主要用于评估电路在不同温度下的性能表现,包括温度漂移、温度系数等参数的测试。

4.测试结果的评定
电压比较器的测试结果需要进行评定,以确定电路的性能是否符合要求。评定的主要内容包括输入输出特性、功耗、温度特性等方面的测试结果。其中,输入输出特性是电压比较器测试的核心内容,需要对输入电压范围、输出电压范围、响应时间、输出电平等参数进行评定。功耗评定主要用于评估电路的功耗性能,包括静态功耗和动态功耗两个方面。温度特性评定主要用于评估电路在不同温度下的性能表现,包括温度漂移、温度系数等参数的评定。

相关标准:
GB/T 2423.1-2008 环境试验 第1部分:通用试验方法
GB/T 2423.10-2008 环境试验 第10部分:气候试验(试验A)
GB/T 2423.17-2008 环境试验 第17部分:电磁辐射试验
GB/T 2423.22-2008 环境试验 第22部分:温度变化试验
GB/T 2423.38-2002 环境试验 第38部分:恒定湿热试验(试验Ca)