SJ/T 11706-2018
半导体集成电路 现场可编程门阵列测试方法
发布时间:2018-02-09 实施时间:2018-04-01
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半导体集成电路现场可编程门阵列(FPGA)是一种可编程逻辑器件,具有高度的灵活性和可重构性,广泛应用于数字电路设计、通信、图像处理等领域。为了保证FPGA的可靠性和稳定性,需要对其进行测试。本标准旨在规定FPGA测试的方法和要求,以确保测试结果的准确性和可靠性。
1.测试环境
FPGA测试需要在特定的测试环境下进行,包括测试设备、测试软件、测试数据等。测试设备应符合相关标准要求,测试软件应具备相应的测试功能和数据处理能力,测试数据应具有代表性和充分的覆盖度。
2.测试流程
FPGA测试流程包括测试准备、测试执行、测试数据处理等步骤。测试准备包括测试环境的搭建、测试数据的准备等;测试执行包括测试数据的加载、测试程序的执行等;测试数据处理包括测试结果的分析、统计等。
3.测试数据处理
FPGA测试数据处理需要对测试结果进行分析和统计,以评估FPGA的性能和可靠性。测试数据处理应包括以下内容:
(1)测试结果的分析和统计;
(2)测试结果的比对和验证;
(3)测试结果的报告和记录。
相关标准:
GB/T 22239-2008 半导体集成电路测试方法
GB/T 22240-2008 半导体集成电路测试数据格式
GB/T 22241-2008 半导体集成电路测试数据交换格式
GB/T 22242-2008 半导体集成电路测试数据管理