SJ/T 11767-2020
二极管低频噪声参数测试方法
发布时间:2020-12-09 实施时间:2021-04-01


二极管是一种常见的电子元器件,广泛应用于电子电路中。在实际应用中,二极管的低频噪声参数是一个重要的指标,对于保证电路的稳定性和可靠性具有重要意义。因此,对二极管低频噪声参数进行准确的测试是非常必要的。

本标准主要包括以下内容:

1.噪声系数的测量方法

噪声系数是指二极管输出信号与输入信号之比的对数值,通常用dB表示。本标准规定了噪声系数的测量方法,包括测试仪器的选择、测试电路的搭建、测试条件的确定等。

2.噪声指数的测量方法

噪声指数是指二极管输出信号与输入信号之比的平方根值,通常用nV/√Hz表示。本标准规定了噪声指数的测量方法,包括测试仪器的选择、测试电路的搭建、测试条件的确定等。

3.噪声谱密度的测量方法

噪声谱密度是指单位频带内的噪声功率密度,通常用nV²/Hz表示。本标准规定了噪声谱密度的测量方法,包括测试仪器的选择、测试电路的搭建、测试条件的确定等。

本标准的实施可以提高二极管低频噪声参数的测试准确度和可靠性,为电子电路的设计和应用提供参考依据。

相关标准:
GB/T 2423.1-2008 环境试验 第1部分:通用试验方法
GB/T 2423.2-2008 环境试验 第2部分:试验B:高温试验方法
GB/T 2423.3-2006 环境试验 第3部分:试验Ca:恒湿热试验方法
GB/T 2423.4-2008 环境试验 第4部分:试验Db:盐雾试验方法
GB/T 2423.5-2006 环境试验 第5部分:试验Eh:跌落试验方法