电子真空器件是一种重要的电子元器件，其性能的优劣直接影响到整个电子系统的性能。刚玉粉是电子真空器件中常用的材料之一，其粒度分布对电子器件的性能有着重要的影响。因此，对刚玉粉的粒度分布进行准确的测定是非常必要的。

本标准采用密度天平法测定刚玉粉的粒度分布。该方法的原理是根据不同粒径的刚玉粉在不同密度的液体中的沉降速度的差异来测定刚玉粉的粒度分布。具体步骤如下：

1. 准备样品：将待测刚玉粉样品加入到密度为1.0g/cm³的液体中，使其悬浮均匀。

2. 测定密度：使用密度天平测定液体的密度。

3. 测定沉降速度：将样品液体倒入沉降管中，记录不同高度处的时间，计算出不同粒径的刚玉粉的沉降速度。

4. 计算粒度分布：根据沉降速度计算出不同粒径的刚玉粉的粒度分布。

本标准还规定了测定时的仪器设备、样品的制备方法、测定条件等详细内容。

相关标准
- GB/T 19077.1-2015 电真空器件用刚玉粉 粒度分布的测定 液位法
- GB/T 19077.2-2015 电真空器件用刚玉粉 粒度分布的测定 气雾法
- GB/T 19077.3-2015 电真空器件用刚玉粉 粒度分布的测定 气流分选法
- GB/T 19077.4-2015 电真空器件用刚玉粉 粒度分布的测定 激光粒度分析法
- GB/T 19077.5-2015 电真空器件用刚玉粉 粒度分布的测定 电子显微镜法