HYX-3型微机 X 射线荧光仪是一种用于荧光光谱分析的仪器，主要用于元素分析和质量控制。本标准适用于生产和使用HYX-3型微机 X 射线荧光仪的单位。

1. 技术要求
1.1 性能指标
HYX-3型微机 X 射线荧光仪应具有以下性能指标：
- 分辨率：不小于150eV；
- 灵敏度：不小于1000cps/μg；
- 稳定性：24小时内峰位漂移不超过0.1%；
- 精度：相对误差不超过1%；
- 重复性：相对标准偏差不超过0.5%。

1.2 结构和工作原理
HYX-3型微机 X 射线荧光仪应采用封闭式 X 射线管和多道分析器，具有以下结构和工作原理：
- 封闭式 X 射线管：采用钨靶，管电压不小于50kV，管电流不小于50μA；
- 多道分析器：采用硅锗探测器，能量分辨率不小于150eV；
- 微机控制：采用微机控制系统，实现自动化分析和数据处理。

1.3 外观和尺寸
HYX-3型微机 X 射线荧光仪应具有美观、结构合理、易于操作的外观，尺寸应符合设计要求。

2. 试验方法
2.1 性能试验
HYX-3型微机 X 射线荧光仪应进行以下性能试验：
- 分辨率试验：采用标准样品进行测试，分辨率应不小于150eV；
- 灵敏度试验：采用标准样品进行测试，灵敏度应不小于1000cps/μg；
- 稳定性试验：在24小时内进行测试，峰位漂移应不超过0.1%；
- 精度试验：采用标准样品进行测试，相对误差应不超过1%；
- 重复性试验：采用标准样品进行测试，相对标准偏差应不超过0.5%。

2.2 外观检验
HYX-3型微机 X 射线荧光仪应进行外观检验，检查外观是否符合设计要求。

3. 检验规则
3.1 出厂检验
HYX-3型微机 X 射线荧光仪出厂前应进行性能试验和外观检验，合格后方可出厂。

3.2 定期检验
HYX-3型微机 X 射线荧光仪应定期进行性能试验和外观检验，检验周期不得超过一年。

4. 标志、包装、运输和质量保证
4.1 标志
HYX-3型微机 X 射线荧光仪应在外包装上标明以下内容：
- 产品名称、型号和规格；
- 生产厂家名称、地址和联系方式；
- 出厂日期和批号。

4.2 包装和运输
HYX-3型微机 X 射线荧光仪应采用适当的包装材料进行包装，以保证在运输过程中不受损坏。

4.3 质量保证
HYX-3型微机 X 射线荧光仪应符合国家相关标准和技术要求，生产厂家应对产品质量负责。

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