画线比对法是印章印文检验中常用的一种方法，其基本原理是将待检印章或印文与已知印章或印文进行比对，通过比对结果来判断待检印章或印文的真伪。本标准主要针对画线比对法进行规范和标准化，以提高印章印文检验的准确性和可靠性。

本标准规定了画线比对法的技术要求，包括比对线的粗细、长度、颜色等要求，以及比对线的绘制方法和比对图的制作要求。同时，本标准还规定了比对时需要注意的事项，如比对图的选择、比对线的位置等。

本标准还详细介绍了画线比对法的检验方法，包括比对前的准备工作、比对时的操作步骤、比对后的结果判定等内容。在比对结果判定方面，本标准规定了判定标准和判定方法，以确保比对结果的准确性和可靠性。

最后，本标准还规定了画线比对法的报告编制要求，包括报告的内容、格式、要求等。报告应当详细记录比对过程和结果，以便后续的审查和验证。

相关标准
- GA/T 1694-2019 法庭科学 印章印文检验 第5部分：印章印文比对法
- GA/T 1696-2019 法庭科学 印章印文检验 第7部分：光学显微镜检验法
- GA/T 1697-2019 法庭科学 印章印文检验 第8部分：电子显微镜检验法
- GA/T 1698-2019 法庭科学 印章印文检验 第9部分：红外光谱检验法
- GA/T 1699-2019 法庭科学 印章印文检验 第10部分：X射线荧光光谱检验法