HG/T 3008-1999
片基表面电阻的测定
发布时间:1999-06-16 实施时间:2000-06-01


一、范围
本标准适用于片基表面电阻的测定。

二、仪器设备
1. 电阻计:量程应符合被测样品的电阻值范围,精度应不低于0.5%。
2. 电源:直流电源,电压应符合被测样品的电压要求。
3. 电阻率计:用于测定被测样品的电阻率。

三、试验样品
1. 试验样品应符合设计要求。
2. 试验样品应在室温下放置24小时以上,以达到稳定状态。

四、试验步骤
1. 将电阻计接在被测样品的两端,记录电阻值。
2. 计算电阻面积。
3. 用电阻率计测定被测样品的电阻率。
4. 根据公式计算片基表面电阻。

五、计算公式
片基表面电阻(Ω/□)=电阻值(Ω)/电阻面积(□)

六、注意事项
1. 试验过程中应注意安全。
2. 试验样品应符合设计要求。
3. 试验样品应在室温下放置24小时以上,以达到稳定状态。
4. 电阻计的量程应符合被测样品的电阻值范围,精度应不低于0.5%。
5. 电源的电压应符合被测样品的电压要求。

相关标准
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