磁带用聚酯薄膜表面粗糙度的测量触针法是一种常用的测量方法。该方法通过使用触针对聚酯薄膜表面进行测量，以确定其表面粗糙度。触针法是一种直接测量方法，可以获得较为准确的测量结果。

测量前，应将触针进行校准，以确保其准确度。校准时，应使用标准样品进行比对，以确定触针的准确度。校准后，即可进行测量。

测量时，应将聚酯薄膜样品固定在测量台上，并将触针放置在样品表面上。触针应垂直于样品表面，并应用一定的压力。然后，应将触针沿着样品表面移动，以获得一系列测量值。测量值应记录下来，并计算出平均值。

本标准规定了测量结果的表示方法。测量结果应以Ra值表示，即平均粗糙度。Ra值应以微米为单位表示，并应四舍五入到小数点后两位。测量结果应记录在测量报告中，并应注明测量日期、测量人员、测量设备等信息。

相关标准
GB/T 6672-2001 磁带用聚酯薄膜
GB/T 6673-2001 磁带用聚酯薄膜表面粗糙度的测量方法
GB/T 6674-2001 磁带用聚酯薄膜表面光泽度的测量方法
GB/T 6675-2001 磁带用聚酯薄膜表面静电电荷的测量方法
GB/T 6676-2001 磁带用聚酯薄膜表面张力的测量方法