光学功能薄膜是一种具有特定光学性能的薄膜，广泛应用于光学器件、光学仪器、光学通信等领域。近红外光谱透过率是光学功能薄膜的重要性能指标之一，对于保证光学器件的正常工作具有重要意义。本标准旨在规定光学功能薄膜近红外光谱透过率的测量方法，以保证测量结果的准确性和可靠性。

1.范围
本标准适用于光学功能薄膜近红外光谱透过率的测量。

2.仪器设备
2.1 近红外光谱仪
2.2 样品夹
2.3 样品支架
2.4 计算机

3.试验步骤
3.1 样品制备
将待测样品切割成合适的大小，并清洗干净，确保表面无杂质和污染物。
3.2 样品安装
将样品夹固定在样品支架上，并将样品放置在近红外光谱仪的样品室中。
3.3 测量条件设置
设置近红外光谱仪的测量条件，包括光源、检测器、光程等参数。
3.4 测量
启动近红外光谱仪，进行测量，并记录测量结果。
3.5 数据处理
将测量结果导入计算机中，进行数据处理和分析，得出样品的近红外光谱透过率。

4.结果表示
测量结果应以图形和数字形式表示，并注明测量条件和样品信息。

5.注意事项
5.1 样品制备时应注意避免表面污染和损伤。
5.2 样品安装时应保证样品夹和样品支架的稳定性。
5.3 测量条件设置时应根据样品的特性进行调整。
5.4 测量时应保证光路畅通，避免光路中有杂质和污染物。
5.5 数据处理时应注意数据的准确性和可靠性。

相关标准
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