HG/T 5659-2019
光学功能薄膜 黄变的测量方法
发布时间:2019-12-24 实施时间:2020-07-01


光学功能薄膜是一种具有特定光学性能的薄膜,广泛应用于光学仪器、光学器件、光学涂层等领域。然而,由于光学功能薄膜在使用过程中受到环境因素的影响,如光、热、湿等,会导致其颜色发生变化,特别是黄变现象,影响其光学性能和使用寿命。因此,对光学功能薄膜的黄变进行测量和评估具有重要意义。

本标准适用于测量光学功能薄膜的黄变程度。测量方法采用反射光谱法,通过测量样品在可见光范围内的反射光谱,计算出其黄变指数。黄变指数是指样品在可见光范围内的反射光谱中,波长为400nm和600nm之间的反射率之比,用于评估样品的黄变程度。

本标准规定了测量设备、样品制备、测量条件、数据处理等方面的要求和方法。其中,测量设备包括反射光谱仪、光源、样品支架等;样品制备包括样品的选择、清洗、干燥等;测量条件包括光源的选择、测量角度、测量温度等;数据处理包括反射光谱的获取、数据处理和计算黄变指数等。

本标准的实施可以帮助用户了解光学功能薄膜的黄变程度,评估其使用寿命和光学性能,为产品的研发、生产和质量控制提供参考依据。

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