YS/T 426.7-2000
锑铍芯块化学分析方法 高频-红外吸收法测定碳量
发布时间:2000-03-29 实施时间:2000-10-01


锑铍芯块是一种用于制造高频电子元器件的重要材料,其中的碳含量对其性能有着重要的影响。因此,准确测定锑铍芯块中的碳量是非常必要的。本标准提供了一种高频-红外吸收法测定锑铍芯块中碳量的方法。

该方法的原理是:将锑铍芯块样品加热至高温,使其中的碳与氧反应生成CO,然后利用高频电磁场将CO分子激发,使其发生振动,产生红外吸收信号。通过测定红外吸收信号的强度,可以计算出样品中的碳含量。

具体操作步骤如下:

1. 取锑铍芯块样品约1g,粉碎至100目筛下。

2. 将样品放入石英坩埚中,加入适量的氧化铜和氧化铝作为助燃剂。

3. 将石英坩埚放入高频感应炉中,加热至1000℃,使样品中的碳与氧反应生成CO。

4. 利用高频电磁场将CO分子激发,产生红外吸收信号。

5. 测定红外吸收信号的强度,并根据标准曲线计算出样品中的碳含量。

本方法具有操作简便、准确度高、重现性好等优点,适用于锑铍芯块中碳量的测定。

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