高纯铝是一种重要的金属材料，广泛应用于航空、航天、电子、化工等领域。高纯铝的质量要求非常高，其中硅是一种常见的杂质元素，对高纯铝的性能有很大影响。因此，准确测定高纯铝中硅的含量是非常重要的。

本标准采用钼蓝萃取光度法测定高纯铝中硅的含量。该方法的原理是：将高纯铝样品中的硅与钼酸钠在酸性介质中反应生成钼酸硅酸盐，然后用有机溶剂萃取，最后用紫外可见分光光度计测定萃取液的吸光度，根据标准曲线计算出硅的含量。

本标准适用于高纯铝中硅含量在0.001%~0.1%范围内的测定。

具体操作步骤如下：

1.取样。将高纯铝样品称取0.5~1.0g，加入100ml三氧化二铁-氢氧化钠溶液，加热至沸腾，使样品中的硅完全转化为钼酸硅酸盐。

2.萃取。将上述溶液冷却至室温，加入10ml萃取剂（异丙醇-正丁醇-苯酚=5:4:1），摇匀，离心分离，取上层有机相。

3.测定。将有机相转移到紫外可见分光光度计比色皿中，以异丙醇为对照，测定吸光度。根据标准曲线计算出硅的含量。

本标准还规定了实验室环境、试剂、仪器设备、标准曲线的制备等要求。

相关标准
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