YS/T 364-2006
纯铱中杂质元素的发射光谱分析
发布时间:2006-05-25 实施时间:2006-12-01
纯铱是一种重要的金属材料,广泛应用于航空航天、电子、化工等领域。纯铱中的杂质元素会影响其性能和质量,因此需要对其进行分析。本标准规定了纯铱中杂质元素的发射光谱分析方法。
1. 原理
将纯铱样品加入激发剂,通过电弧或火焰激发,使样品中的元素激发发射光谱线,通过光谱仪进行分析,得到各元素的发射光谱强度,从而计算出各元素的含量。
2. 仪器设备
本方法所需的仪器设备包括:电弧或火焰激发源、光谱仪、样品台、激发剂等。
3. 样品制备
将纯铱样品研磨成粉末状,加入激发剂,混合均匀后压制成片状或块状。
4. 操作步骤
(1)将样品放置在样品台上,调整激发源的位置和功率,使其激发样品中的元素。
(2)通过光谱仪进行分析,记录各元素的发射光谱强度。
(3)根据标准曲线计算各元素的含量。
5. 结果计算
根据各元素的发射光谱强度和标准曲线,计算出各元素的含量。
6. 分析结果的判定
分析结果应符合相关标准的要求。
相关标准
GB/T 5121-2008 纯铱
GB/T 5122-2008 纯铱化学分析方法
GB/T 5123-2008 纯铱物理性能试验方法
GB/T 5124-2008 纯铱尺寸、形状、重量和允许偏差
GB/T 5125-2008 纯铱标志、包装、运输和贮存