YS/T 555.2-2009
钼精矿化学分析方法 二氧化硅量的测定 硅钼蓝分光光度法和重量法
发布时间:2009-12-04 实施时间:2010-06-01
钼精矿是一种重要的钼矿石,其中含有大量的钼元素,同时也含有一定量的杂质元素,如二氧化硅。二氧化硅是一种常见的杂质元素,它会影响钼的提取和加工,因此需要对钼精矿中的二氧化硅含量进行测定。
本标准规定了两种测定钼精矿中二氧化硅量的方法:硅钼蓝分光光度法和重量法。
硅钼蓝分光光度法是一种常用的测定二氧化硅含量的方法。该方法利用硅钼蓝与二氧化硅在酸性条件下反应生成蓝色络合物,通过分光光度计测定络合物的吸光度,计算出二氧化硅的含量。该方法适用于二氧化硅含量在0.01%~10.0%范围内的钼精矿。
重量法是一种直接测定二氧化硅含量的方法。该方法将钼精矿样品与氢氟酸和硝酸混合加热,使样品中的二氧化硅转化为氟化硅,然后用水稀释,加入氢氧化钠使溶液中的氟化硅沉淀,经过烘干和称重后,计算出二氧化硅的含量。该方法适用于二氧化硅含量在0.1%~50.0%范围内的钼精矿。
本标准还规定了样品的制备、试剂的使用、仪器的校准和操作步骤等详细内容,以确保测定结果的准确性和可靠性。
相关标准
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