：
氢氧化铝是一种重要的无机化工原料，广泛应用于制备陶瓷、电子元器件、涂料、塑料等领域。其中，SiO2、Fe2O3、Na2O是氢氧化铝中的主要杂质，其含量的高低直接影响氢氧化铝的质量和性能。因此，准确测定氢氧化铝中SiO2、Fe2O3、Na2O含量对于保证产品质量具有重要意义。

本标准采用X射线荧光光谱法测定氢氧化铝中SiO2、Fe2O3、Na2O含量。该方法具有快速、准确、无损、无污染等优点，适用于氢氧化铝中SiO2、Fe2O3、Na2O含量的测定。

本标准规定了样品的制备、仪器设备、分析条件、分析方法、结果计算等内容。其中，样品的制备包括样品的研磨、筛分、干燥等步骤；仪器设备包括X射线荧光光谱仪、样品支架、样品转台等；分析条件包括X射线管电压、电流、滤光器等；分析方法包括校正曲线的绘制、样品的测定等；结果计算包括计算SiO2、Fe2O3、Na2O的含量等。

本标准适用于氢氧化铝中SiO2、Fe2O3、Na2O含量的测定，适用于生产、科研、检验等领域。

相关标准：
GB/T 6900-2006 氢氧化铝
GB/T 6901-2008 氢氧化铝试验方法
GB/T 6902-2006 氢氧化铝技术条件
GB/T 6903-2008 氢氧化铝包装、标志、运输和贮存