纯钯是一种重要的贵金属材料，广泛应用于电子、化工、医药等领域。纯钯中杂质元素的含量对其性能和用途有着重要的影响。因此，准确地测定纯钯中杂质元素的含量是非常必要的。

本标准采用发射光谱分析法，通过测定杂质元素的发射光谱强度，计算出其含量。具体操作步骤如下：

1. 样品制备：将纯钯样品加入适量的稀盐酸中，加热至完全溶解，再加入适量的硝酸，继续加热至干燥。将干燥后的样品加入石英坩埚中，加热至1000℃，使其完全分解。

2. 光谱仪设置：将样品放入光谱仪中，设置好光谱仪的参数，包括波长范围、积分时间、光谱线选择等。

3. 标准曲线绘制：选取几个已知浓度的标准样品，按照上述方法测定其发射光谱强度，绘制出标准曲线。

4. 测定样品：按照上述方法测定待测样品的发射光谱强度，并根据标准曲线计算出其含量。

本标准的优点是测定结果准确可靠，适用于纯钯中多种杂质元素的定量分析。但是，该方法需要使用昂贵的光谱仪器，操作技术要求较高，且样品制备过程较为繁琐。

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