高纯铝是一种纯度较高的铝材料，其纯度可以达到99.999%以上。高纯铝广泛应用于电子、航空、航天、化工等领域。由于高纯铝的纯度要求非常高，因此需要对其中的痕量杂质元素进行测定。本标准介绍了一种测定高纯铝中痕量杂质元素的方法，即辉光放电质谱法。

辉光放电质谱法是一种常用的化学分析方法，可以用于测定金属材料中的痕量元素。该方法的原理是将待测样品放置在真空中，通过加热和电弧放电等方式将样品中的元素激发成为带电离子，然后通过质谱仪进行分析。该方法具有分析速度快、准确度高、灵敏度高等优点。

本标准中，测定高纯铝中的痕量杂质元素采用辉光放电质谱法进行分析。具体操作步骤如下：

1. 样品制备：将高纯铝样品研磨成粉末状，然后加入适量的氧化铝和氟化钠混合均匀，再加入适量的氢氧化钠和氢氧化铝，将样品溶解在水中。

2. 样品处理：将样品溶液过滤，然后加入适量的硝酸和氢氟酸，将样品转化为硝酸盐和氟化物。

3. 辉光放电质谱分析：将样品溶液放置在真空中，通过加热和电弧放电等方式将样品中的元素激发成为带电离子，然后通过质谱仪进行分析。

4. 数据处理：根据质谱仪的输出结果，计算出样品中各元素的含量。

本标准中，对于高纯铝中的痕量杂质元素，可以测定的元素包括铁、铜、锰、镁、锌、钠、钾、钙、硅、铅、镉、铬、镍、钴、银、锡、汞等。测定结果的相对标准偏差应小于10%。

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