YS/T 742-2010
氧化镓化学分析方法 杂质元素的测定 电感耦合等离子体质谱法
发布时间:2010-11-10 实施时间:2011-03-01
氧化镓是一种重要的半导体材料,广泛应用于电子、光电、光学等领域。氧化镓的纯度对其性能有着重要的影响,因此需要对氧化镓中的杂质元素进行测定。本标准采用电感耦合等离子体质谱法进行分析,具有高灵敏度、高准确度、高选择性等优点。
1. 范围
本标准适用于氧化镓中杂质元素的测定。
2. 仪器设备
采用电感耦合等离子体质谱仪进行分析。
3. 试剂和材料
试剂和材料应符合国家标准或行业标准的要求。
4. 样品制备
样品应按照国家标准或行业标准的要求进行制备。
5. 操作步骤
(1)样品的制备:将样品按照国家标准或行业标准的要求进行制备。
(2)样品的处理:将样品加入适量的稀盐酸中,加热至沸腾,使样品完全溶解。
(3)质谱分析:将样品溶液通过电感耦合等离子体质谱仪进行分析。
6. 结果计算
根据质谱仪的测定结果,按照国家标准或行业标准的要求进行计算。
7. 结果报告
报告应包括样品的名称、编号、测定结果等信息。
相关标准
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