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高纯铼是一种重要的金属材料，广泛应用于航空航天、电子、化工等领域。高纯铼中痕量杂质元素的含量对其性能和质量有着重要的影响。因此，准确测定高纯铼中痕量杂质元素的含量是保证其质量的重要手段之一。

本标准采用辉光放电质谱法测定高纯铼中痕量杂质元素的含量。该方法具有灵敏度高、准确度高、选择性好等优点，适用于高纯铼中痕量杂质元素的测定。

辉光放电质谱法是一种基于原子发射光谱的分析方法，其原理是将试样放置在电极上，通过高频电源产生的高电压放电，使得试样被激发成等离子体，进而发射出特定波长的光谱线。通过测量这些光谱线的强度，可以确定试样中各元素的含量。

本标准中规定了辉光放电质谱法的仪器要求，包括放电源、光谱仪、探测器等。同时，还规定了试样的制备方法，包括试样的取样、预处理、溶解等。在分析操作方面，本标准中规定了试样的进样、放电、测量等步骤。在数据处理方面，本标准中规定了数据的处理方法和结果的报告要求。

本标准适用于高纯铼中痕量杂质元素的测定，可以用于高纯铼的质量控制和质量评价。

相关标准：
GB/T 223.69-2008 金属及其化合物化学分析方法 第69部分：铼中铁量的测定 二苯胺磺酸盐分光光度法
GB/T 223.70-2008 金属及其化合物化学分析方法 第70部分：铼中铜量的测定 二苯胺磺酸盐分光光度法
GB/T 223.71-2008 金属及其化合物化学分析方法 第71部分：铼中银量的测定 二苯胺磺酸盐分光光度法
GB/T 223.72-2008 金属及其化合物化学分析方法 第72部分：铼中铅量的测定 二苯胺磺酸盐分光光度法
GB/T 223.73-2008 金属及其化合物化学分析方法 第73部分：铼中镍量的测定 二苯胺磺酸盐分光光度法