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高纯钨是一种重要的工业材料，广泛应用于电子、航空、航天等领域。高纯钨的杂质元素含量对其性能有很大影响，因此需要对高纯钨中的杂质元素进行测定。本标准采用辉光放电质谱法进行分析，具有灵敏度高、准确度高、分析速度快等优点。

1.范围
本标准适用于高纯钨中痕量杂质元素的测定。

2.仪器设备
2.1 辉光放电质谱仪
2.2 氩气瓶
2.3 钨丝

3.试剂和材料
3.1 高纯钨样品
3.2 氩气
3.3 高纯氢气
3.4 高纯氧气
3.5 高纯氮气
3.6 标准物质

4.分析步骤
4.1 样品制备
将高纯钨样品研磨成粉末状，取约0.1g样品，加入10ml高纯氢气，超声处理30min，使样品充分分散。
4.2 仪器调试
按照辉光放电质谱仪的使用说明进行调试。
4.3 样品分析
将样品溶液注入辉光放电质谱仪中，进行分析。根据标准物质的浓度和信号强度，计算出样品中各元素的含量。

5.结果计算
根据标准物质的浓度和信号强度，计算出样品中各元素的含量。

6.质量控制
6.1 样品制备过程中，应注意避免污染。
6.2 分析过程中，应定期进行仪器校准和质量控制。

相关标准：
GB/T 223.69-2008 金属和合金化学分析方法 硫的测定 火焰原子吸收光谱法
GB/T 223.71-2008 金属和合金化学分析方法 铜的测定 火焰原子吸收光谱法
GB/T 223.72-2008 金属和合金化学分析方法 铁的测定 邻苯二酚分光光度法
GB/T 223.73-2008 金属和合金化学分析方法 镍的测定 邻苯二酚分光光度法
GB/T 223.74-2008 金属和合金化学分析方法 钼的测定 邻苯二酚分光光度法