YS/T 602-2017
区熔锗锭电阻率测试方法 两探针法
发布时间:2017-07-07 实施时间:2018-01-01


区熔锗锭是一种重要的半导体材料,其电阻率是其性能的重要指标之一。本标准规定了区熔锗锭电阻率测试方法的两探针法,以确保测试结果的准确性和可靠性。

1.范围
本标准适用于区熔锗锭的电阻率测试。

2.仪器设备
2.1 电阻率测试仪
2.2 两个探针

3.试样制备
3.1 试样应选取表面平整、无明显缺陷的区熔锗锭。
3.2 试样应切割成直径为10mm,厚度为2mm的圆片。

4.测试步骤
4.1 将试样放置在测试仪上,调整测试仪的参数。
4.2 将两个探针分别插入试样的两侧,使其与试样表面垂直,并保持一定的距离。
4.3 测试仪开始测试,记录测试结果。

5.计算方法
5.1 根据测试结果计算出试样的电阻率。
5.2 电阻率的计算公式为:ρ=πd²/4L,其中ρ为电阻率,d为试样直径,L为试样长度。

6.结果表示
6.1 测试结果应保留至少三位有效数字。
6.2 测试结果应以电阻率的形式表示,单位为Ω·cm。

相关标准:
GB/T 6908-2017 区熔锗锭
GB/T 6909-2017 区熔锗锭化学成分测定方法
GB/T 6910-2017 区熔锗锭尺寸测定方法
GB/T 6911-2017 区熔锗锭外观检验方法
GB/T 6912-2017 区熔锗锭包装、标志、运输和贮存