高纯二氧化锗是一种重要的半导体材料，其纯度对器件性能有着重要的影响。其中，铁是高纯二氧化锗中的主要杂质之一，其含量的高低直接影响到高纯二氧化锗的质量。因此，准确测定高纯二氧化锗中铁的含量是非常重要的。

本标准采用石墨炉原子吸收光谱法测定高纯二氧化锗中铁的含量。该方法具有灵敏度高、准确度高、重现性好等优点，适用于高纯二氧化锗中铁含量在0.0001%~0.1%范围内的测定。

具体操作步骤如下：

1. 样品的制备

将高纯二氧化锗样品粉碎并过筛，取约0.1g样品加入100mL三氧化二铁溶液中，加热至沸腾，保持沸腾5min，然后冷却至室温，用去离子水洗涤，直至洗涤液中不再检测到铁的存在。

2. 样品的处理

将样品溶解于1mL浓盐酸和1mL浓硝酸混合液中，加热至干燥，再加入1mL浓盐酸和1mL去离子水，加热至干燥，重复上述操作3次，最后加入1mL去离子水，使样品溶解。

3. 样品的测定

将样品溶液转移至石墨炉中，按照以下程序进行测定：

温度（℃）|时间（s）|气体流速（L/min）
-|-|-
120|10|0.5
150|10|0.5
200|5|0.5
240|5|0.5
280|5|0.5
300|5|0.5
310|5|0.5
310|3|0
2600|3|0

测定时，应同时进行空白试验，并根据标准曲线计算出样品中铁的含量。

相关标准
- GB/T 6908-2017 高纯化学品中杂质元素的测定 石墨炉原子吸收光谱法
- GB/T 6909-2017 高纯化学品中杂质元素的测定 石墨炉原子荧光光谱法
- GB/T 6910-2017 高纯化学品中杂质元素的测定 石墨炉原子发射光谱法
- GB/T 6911-2017 高纯化学品中杂质元素的测定 石墨炉原子吸收光谱法
- GB/T 6912-2017 高纯化学品中杂质元素的测定 石墨炉原子荧光光谱法