掺锡氧化铟粉是一种重要的半导体材料，广泛应用于电子、光电、信息等领域。其中硅是一种常见的杂质元素，其含量的高低对掺锡氧化铟粉的性能和质量有着重要的影响。因此，准确测定掺锡氧化铟粉中硅的含量是非常必要的。

本标准采用钼蓝光度法进行硅含量的测定。该方法的原理是：将掺锡氧化铟粉样品中的硅与酸化钼反应生成蓝色的钼蓝化合物，然后用分光光度计测定其吸光度，根据标准曲线计算出硅的含量。

具体操作步骤如下：

1. 取适量掺锡氧化铟粉样品，精密称量，记录质量。

2. 将样品加入锥形瓶中，加入一定量的硝酸和氢氟酸，加热至完全溶解。

3. 将溶液转移至100ml容量瓶中，用去离子水定容。

4. 取适量标准硅溶液，精密称量，记录质量。

5. 将标准硅溶液加入锥形瓶中，加入一定量的硝酸和氢氟酸，加热至完全溶解。

6. 将溶液转移至100ml容量瓶中，用去离子水定容。

7. 分别取样品溶液和标准硅溶液，加入一定量的酸化钼试剂，混合均匀。

8. 放置15分钟，然后用分光光度计测定吸光度。

9. 根据标准曲线计算出样品中硅的含量。

本标准的实施可以有效保证掺锡氧化铟粉中硅含量的准确测定，为掺锡氧化铟粉的生产和应用提供了可靠的技术支持。

相关标准
GB/T 6900-2006 无机化学试剂 硝酸
GB/T 6901-2006 无机化学试剂 氢氟酸
GB/T 6902-2006 无机化学试剂 酸化钼试剂
GB/T 8170-2008 数值舍入规则及其在计算中的应用
GB/T 6682-2008 分析化学实验室通用规定