YS/T 1347-2020
高纯铪化学分析方法 痕量杂质元素含量的测定 辉光放电质谱法
发布时间:2020-04-16 实施时间:2020-10-01
高纯铪是一种重要的金属材料,广泛应用于航空航天、核工业、电子工业等领域。高纯铪的杂质元素含量对其性能和应用有着重要的影响。因此,对高纯铪中痕量杂质元素含量的测定具有重要意义。
本标准采用辉光放电质谱法进行分析。该方法具有灵敏度高、准确度高、选择性好等优点,能够同时测定高纯铪中多种元素的含量。具体操作步骤如下:
1. 样品制备
将高纯铪样品加入石英坩埚中,加入适量的氧化铝和氧化铁,混合均匀。然后将样品加热至1000℃,保温2小时,使样品中的杂质元素与氧化铝和氧化铁反应生成氧化物。待样品冷却后,将其转移到石英瓶中,加入适量的氢氟酸和硝酸,加热至溶解。
2. 样品分析
将样品溶液注入辉光放电质谱仪中,进行分析。根据样品中元素的不同,选择不同的分析条件和质谱峰进行分析。通过比对样品中元素的质谱峰与标准品的质谱峰,计算出样品中各元素的含量。
3. 质量控制
在分析过程中,应加入空白样品和标准品进行质量控制。空白样品用于检测仪器本底信号,标准品用于检测仪器的准确度和精密度。同时,应定期进行仪器的校准和维护,确保分析结果的准确性和可靠性。
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