YS/T 83-2020
光谱分析用钯基体
发布时间:2020-12-09 实施时间:2021-04-01


光谱分析是一种重要的化学分析方法,广泛应用于各个领域。钯基体是光谱分析中常用的一种分析试剂,具有灵敏度高、选择性好等优点。本标准主要针对光谱分析用钯基体的技术要求进行规定。

1. 技术要求
本标准规定了光谱分析用钯基体的化学成分、外观、粒度、比表面积、孔容、吸附容量、热稳定性等技术要求。其中,化学成分应符合标准规定,外观应为黑色或灰黑色粉末,粒度应为1-5微米,比表面积应大于50平方米/克,孔容应大于0.2毫升/克,吸附容量应大于0.5毫克/克,热稳定性应符合标准规定。

2. 试验方法
本标准规定了光谱分析用钯基体的试验方法,包括化学成分的测定、外观检查、粒度测定、比表面积测定、孔容测定、吸附容量测定、热稳定性测定等内容。试验方法应符合标准规定,确保试验结果的准确性和可靠性。

3. 检验规则和标志
本标准规定了光谱分析用钯基体的检验规则和标志,包括检验项目、检验方法、检验结果判定、标志等内容。检验结果应符合标准规定,标志应清晰明确。

4. 包装、运输、贮存
本标准规定了光谱分析用钯基体的包装、运输、贮存要求,包括包装材料、包装方式、运输方式、贮存条件等内容。包装、运输、贮存应符合标准规定,确保试剂的质量和安全性。

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