YS/T 84-2020
光谱分析用铱基体
发布时间:2020-12-09 实施时间:2021-04-01
铱基体是一种用于光谱分析的重要试剂,具有高纯度、稳定性和可靠性等特点。YS/T 84-2020标准规定了铱基体的技术要求,包括化学成分、纯度、杂质含量、粒度和比表面积等指标。其中,化学成分应符合国家标准或行业标准的要求,纯度应达到99.9%以上,杂质含量应低于0.1%,粒度应在1-10微米之间,比表面积应在5-50平方米/克之间。
为了保证铱基体的质量和安全性,YS/T 84-2020标准还规定了铱基体的试验方法和检验规则。试验方法包括化学分析、物理性能测试和光谱分析等,检验规则包括外观检查、化学成分检查、纯度检查、杂质含量检查、粒度检查和比表面积检查等。同时,标准还规定了铱基体的包装、运输和贮存要求,以确保其在使用过程中的安全性和稳定性。
YS/T 84-2020标准的实施,对于提高光谱分析的准确性和可靠性具有重要意义。通过规范铱基体的生产、检验和使用,可以保证其质量和安全性,减少误差和偏差,提高分析结果的可靠性和准确性。同时,该标准还可以促进铱基体的生产和销售,推动光谱分析技术的发展和应用。
相关标准
GB/T 6908-2017 光谱分析试剂 铱基体
GB/T 6909-2017 光谱分析试剂 铑基体
GB/T 6910-2017 光谱分析试剂 铂基体
GB/T 6911-2017 光谱分析试剂 钯基体
GB/T 6912-2017 光谱分析试剂 银基体